射頻識(shí)別(RFID)技術(shù)是20世紀(jì)90年代開始興起的一種非接觸的自動(dòng)識(shí)別技術(shù)，它是利用射頻信號(hào)和空間耦合或雷達(dá)反射的傳輸特性，實(shí)現(xiàn)對(duì)被識(shí)別物體的自動(dòng)識(shí)別。與傳統(tǒng)的磁卡、IC卡相比，該技術(shù)的最大優(yōu)點(diǎn)在于遠(yuǎn)間隔和非接觸識(shí)別，因此完成識(shí)別工作時(shí)無須人工干預(yù)，適合于實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)的自動(dòng)化且不易損壞，可識(shí)別高速運(yùn)動(dòng)物體，操縱快捷方便。
RFID電子標(biāo)簽可靠性試驗(yàn)項(xiàng)目：
1、電磁兼容抗干擾試驗(yàn)
靜電放電抗擾度試驗(yàn)：接觸放電±15kV，空氣放電±15kV，放電次數(shù)正負(fù)極性各10次。
工頻磁場試驗(yàn)：測(cè)試端口外殼端口，磁場強(qiáng)度1000A/m，測(cè)試方向X,Y,Z三個(gè)軸向。
脈沖磁場試驗(yàn)：測(cè)試端口外殼端口，磁場強(qiáng)度1000A/m，試驗(yàn)次數(shù)正負(fù)極性各10次，測(cè)試方向X,Y,Z三個(gè)軸向。
射頻電磁場輻射試驗(yàn)：試驗(yàn)等級(jí)3級(jí)，測(cè)試頻率80MHz-1000MHz,試驗(yàn)場強(qiáng)10V/m。
阻尼振蕩磁場試驗(yàn)：試驗(yàn)等級(jí)5級(jí)，磁場強(qiáng)度100A/m。
2、環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn)
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