從北極科考站到撒哈拉沙漠，從青藏高原到熱帶雨林，現(xiàn)代電子產(chǎn)品正被部署在越來(lái)越極端的環(huán)境中。
而高低溫可靠性測(cè)試，正是驗(yàn)證產(chǎn)品能否在-40℃嚴(yán)寒或+85℃酷熱中依然穩(wěn)定工作的關(guān)鍵手段。
它不只是“放進(jìn)冷熱箱看能不能開(kāi)機(jī)”，而是對(duì)材料、結(jié)構(gòu)、電子系統(tǒng)在熱應(yīng)力下的綜合考驗(yàn)。
今天，就帶你深入高低溫測(cè)試的核心邏輯——從標(biāo)準(zhǔn)解讀到失效分析，看懂如何讓產(chǎn)品無(wú)懼“冰與火”的洗禮。
一、高低溫測(cè)試 ≠ 簡(jiǎn)單“冷熱循環(huán)”
很多人以為高低溫測(cè)試就是把產(chǎn)品放進(jìn)溫箱，調(diào)到高溫再調(diào)到低溫。
但真正的可靠性驗(yàn)證，需區(qū)分三種典型模式：
| 測(cè)試類型 | 目的 | 典型標(biāo)準(zhǔn) |
|---|---|---|
| 高溫存儲(chǔ)（Storage） | 驗(yàn)證材料耐熱老化能力 | IEC 60068-2-2 |
| 低溫存儲(chǔ)（Storage） | 驗(yàn)證脆化、收縮風(fēng)險(xiǎn) | IEC 60068-2-1 |
| 高低溫工作（Operating） | 驗(yàn)證功能在極端溫度下是否正常 | IEC 60068-2-1/2 |
| 溫度循環(huán)（Thermal Cycling） | 模擬反復(fù)熱脹冷縮導(dǎo)致的疲勞失效 | IEC 60068-2-14 |
? 關(guān)鍵區(qū)別：
存儲(chǔ)測(cè)試：產(chǎn)品不通電，只看材料是否劣化；
工作測(cè)試：產(chǎn)品帶電運(yùn)行，驗(yàn)證功能是否穩(wěn)定。
二、極端溫度如何“殺死”產(chǎn)品？
?? 低溫（-40℃ ~ 0℃）主要風(fēng)險(xiǎn)：
塑料脆化：外殼、按鍵開(kāi)裂（如ABS在-20℃以下易碎）；
液晶屏響應(yīng)遲滯或黑屏（LCD工作下限通常為-20℃）；
電池容量驟降：鋰離子電池在-20℃容量損失超50%；
潤(rùn)滑脂凝固：電機(jī)、齒輪卡滯；
焊點(diǎn)微裂：不同材料收縮率差異引發(fā)應(yīng)力。
?? 高溫（+60℃ ~ +125℃）主要風(fēng)險(xiǎn)：
電解電容干涸：壽命每升高10℃縮短一半（Arrhenius定律）；
芯片結(jié)溫超標(biāo)：導(dǎo)致邏輯錯(cuò)誤或永久損壞；
PCB分層：FR-4基材Tg值不足時(shí)軟化變形；
橡膠密封圈老化：失去彈性，導(dǎo)致IP防護(hù)失效；
光學(xué)器件黃變：LED封裝硅膠高溫氧化。
三、行業(yè)典型測(cè)試要求
| 行業(yè) | 溫度范圍（工作） | 特殊要求 |
|---|---|---|
| 消費(fèi)電子（手機(jī)/耳機(jī)） | -10℃ ~ +55℃ | 用戶可接觸表面溫升≤25K |
| 車(chē)載電子（AEC-Q100） | -40℃ ~ +125℃（Grade 1） | 高溫高濕偏壓（HAST）+ 溫度循環(huán) |
| 工業(yè)設(shè)備 | -25℃ ~ +70℃ | 連續(xù)72小時(shí)高溫運(yùn)行無(wú)故障 |
| 軍工/航天 | -55℃ ~ +125℃ | 快速溫變（>10℃/min）+ 低氣壓 |
| 光伏逆變器 | -25℃ ~ +60℃（環(huán)境） | 內(nèi)部熱點(diǎn)可能達(dá)+85℃ |
?? 溫度循環(huán)參數(shù)示例（IEC 60068-2-14）：
溫度范圍：-40℃ ? +85℃
保溫時(shí)間：30分鐘/段
轉(zhuǎn)換時(shí)間：<3分鐘
循環(huán)次數(shù)：200–1000次
下一篇：低溫與高低溫循環(huán)測(cè)試區(qū)別
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