低氣壓試驗是一種利用設備模擬高空低氣壓環(huán)境、對產品在低氣壓環(huán)境下貯存、運輸和使用的適應性進行快速驗證的試驗方法，通過低氣壓試驗可在早期發(fā)現(xiàn)產品的設計缺陷、減少產品在實際使用中的故障率。

、低氣壓試驗可能引發(fā)哪些產品故障

1. 密封失效：氣體或液體因內外壓差從密封結構中泄漏，常見于輸液泵、植入式器械的密封部件。

2. 材料性能退化：非金屬材料（如橡膠、塑料）在低氣壓下可能加速老化，潤滑劑揮發(fā)或可塑劑遷移，影響設備壽命。

3. 電氣性能劣化：空氣密度降低導致絕緣材料介電強度下降，電暈電壓和擊穿電壓顯著降低（海拔每升高1000米，擊穿電壓下降8%-13%），易引發(fā)短路或漏電。

4. 散熱效率降低：空氣對流減弱導致設備溫升增加，海拔每升高1000米，散熱效率下降3%-10%，可能引發(fā)過熱故障。

5. 機械結構變形：密閉腔體因內外壓差破裂，或包裝在運輸過程中因氣壓驟變損壞

檢測項目

常溫低氣壓試驗

低溫低氣壓試驗

高溫低氣壓試驗。

低氣壓試驗常用檢測標準

1.GB/T 2423.21-2008《電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗M：低氣壓》；

2.IEC60068-2-13:1983《基本環(huán)境試驗規(guī)程 第2部分：試驗 試驗M：低氣壓》；

3.GB/T2423.27-2020《環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗方法和導則：溫度/低氣壓或溫度/濕度/低氣壓綜合試驗》；

4.IEC60068-2-39:2015《環(huán)境試驗 第2-39部分：試驗 試驗方法和導則：溫度/低氣壓或溫度/濕度/低氣壓綜合試驗》；

5.GJB150.2A-2009《裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第2部分：低氣壓（高度）試驗》；

6.GJB150.24A-2009《裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第24部分：溫度-濕度振動-高度試驗》；

7.GJB1621.7A-2006《技術偵察裝備通用技術要求 第7部分：環(huán)境適應性要求和試驗方法》；

8.GJB3947A-2009《電子測試設備通用規(guī)范 》；

9.GJB2225A-2008《地面電子對抗設備通用規(guī)范》；

10.TB/T3537-2018《鐵路車站計算機聯(lián)鎖測試規(guī)范》；

11.TB/T3027-2015《鐵路車站計算機聯(lián)鎖技術條件》 ；

12.EN50125-3:2003《軌道交通 設備環(huán)境條件 第3部分：信號和通信設備》 

13.GB/T 7261-2016《繼電保護和安全自動裝置基本試驗方法》

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