金屬材料成分分析的常用技術(shù)
標(biāo)題： 《金屬材料成分分析的常用技術(shù)》
金屬材料成分分析涉及多種檢測(cè)技術(shù)，每種技術(shù)有其獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)和適用范圍。
一、光譜分析法
1. 原子發(fā)射光譜法（AES）：通過測(cè)量樣品原子激發(fā)后發(fā)射的光來定量分析金屬中的元素。
2. X射線熒光光譜（XRF）：利用X射線激發(fā)樣品，根據(jù)元素特定的熒光光譜進(jìn)行定量分析。
二、質(zhì)譜分析法
1. 感應(yīng)耦合等離子體質(zhì)譜（ICP-MS）：將樣品中的金屬元素電離，并通過質(zhì)譜儀進(jìn)行定量分析，適用于痕量元素的檢測(cè)。
2. 二次離子質(zhì)譜（SIMS）：通過發(fā)射高能離子束轟擊樣品表面，分析濺射出來的二次離子，獲得深度剖析信息。
三、其他分析技術(shù)
1. 電子探針微量分析（EPMA）：結(jié)合了電子顯微鏡和X射線光譜技術(shù)，可以在微觀層面上進(jìn)行成分分析。
2. 激光誘導(dǎo)擊穿光譜（LIBS）：利用激光脈沖對(duì)樣品進(jìn)行局部加熱至擊穿，通過分析發(fā)射光譜來確定元素種類和濃度。
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