跌落試驗又名"包裝跌落測試機(jī)"，為產(chǎn)品包裝后在模擬不同的棱、角、面于不同的高度跌落于地面時的情況，從而了解產(chǎn)品受損情況及評估產(chǎn)品包裝組件在跌落時所能承受的墮落高度及耐沖擊強(qiáng)度。從而根據(jù)產(chǎn)品實際情況及國家標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)進(jìn)行改進(jìn)、完善包裝設(shè)計。

本測試通常是主要用來模擬產(chǎn)品在搬運(yùn)期間可能受到的自由跌落，考察產(chǎn)品抗意外沖擊的能力。通常跌落高度大都根據(jù)產(chǎn)品重量以及可能掉落機(jī)率做為參考標(biāo)準(zhǔn)，落下表面應(yīng)該是混凝土或鋼制成的平渴、堅硬的剛性表面（如有特殊要求應(yīng)以產(chǎn)品規(guī)格或客戶測試規(guī)范來決定）。

參照標(biāo)準(zhǔn):GB/T 2423.8-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ed:自由跌落

跌落試驗概念：

跌落試驗的原理--將包裝件按規(guī)定高度跌落于堅硬、平整的水平面上，評定包裝件承受垂直沖擊的能力和包裝對內(nèi)裝物保護(hù)能力的試驗。跌落試驗，又名drop test。用來模擬產(chǎn)品在搬運(yùn)期間可能經(jīng)受到的跌落等。

跌落試驗包括：

(1)非包裝狀態(tài)產(chǎn)品在搬運(yùn)期間可能經(jīng)受的自由跌落，樣品通常按照規(guī)定的姿態(tài)從規(guī)定的高度跌落到規(guī)定的表面上。

(2)模擬負(fù)載電纜上的連接器、小型遙控裝置等在使用中可能經(jīng)受的重復(fù)自由跌落。

(3)包裝跌落

對于不同國際規(guī)范即使產(chǎn)品在相同重量下但掉落高度也不相同，對于手持型產(chǎn)品（如手機(jī)，MP3等）大多數(shù)掉落高度大都介于100cm~150cm不等，IEC對于≤2kg之手持型產(chǎn)品建議應(yīng)滿足100cm之掉落高度不可損壞，MIL則建議掉落高度為122cm，Intel對手持型產(chǎn)品（如手機(jī)）則建議落下高度為150cm。試驗的嚴(yán)苛程度取決于跌落高度、跌落災(zāi)數(shù)、跌落方向。

跌落試驗限值：

針對跌落實驗國家有專門的標(biāo)準(zhǔn)，跌落方式都是一角、三邊、六面之自由落體，跌落的高度是根據(jù)產(chǎn)品重量而定。

分90cm、76cm、65cm幾個等級：

包裝貨物重量(lbs)/(㎏)   落下高度(inches)/(㎝)

1~20.99 lbs(0.45~9.54㎏)   30 in /(76.20㎝)

21~40.99 lbs(9.55~18.63㎏)   24 in /(60.96㎝)

41~60.99 lbs(18.64~27.72 ㎏)  18 in /(45.72㎝)

61~100 lbs(27.73~45.45㎏)   12 in /(30.48㎝)